提高空间分辨率的二维角分辨质子谱仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710283704.8
申请日
2017-04-26
公开(公告)号
CN107180740A
公开(公告)日
2017-09-19
发明(设计)人
杨骕 邓彦卿 远晓辉 方远 葛绪雷 魏文青 高健 刘峰 盛政明 张杰
申请人
申请人地址
200240 上海市闵行区东川路800号
IPC主分类号
H01J4926
IPC分类号
代理机构
上海汉声知识产权代理有限公司 31236
代理人
郭国中
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[21]   一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置 [P]. 
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[22]   高光谱高空间分辨率的图像获取方法及装置 [P]. 
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王好谦 .
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[23]   样品中感兴趣结构的高空间分辨率成像 [P]. 
J·弗林 ;
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[25]   用于机器视觉检测的高空间分辨率图像采集系统 [P]. 
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方峰 ;
李世华 ;
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伊萨耶夫.奥列格 ;
张敏 .
中国专利 :CN216562518U ,2022-05-17
[30]   一种高空间分辨率波浪要素预测方法 [P]. 
史璐铭 ;
唐盟涵 ;
梁丙臣 ;
潘新颖 ;
武国相 ;
王振鲁 ;
梁慧迪 ;
夏浩峰 ;
朱晓罡 ;
门淑娟 ;
成敏 .
中国专利 :CN119578260A ,2025-03-07