方块电阻测量方法以及方块电阻测量装置

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专利类型
发明
申请号
CN201210093709.1
申请日
2012-03-31
公开(公告)号
CN102621390A
公开(公告)日
2012-08-01
发明(设计)人
韦敏侠 谢佳佳
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
IPC主分类号
G01R2708
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
郑玮
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]   方块电阻测量装置及测量方法 [P]. 
唐秋逸 ;
相宇阳 ;
俞胜武 ;
陈剑 .
中国专利 :CN117542759A ,2024-02-09
[2]   方块电阻测量装置及测量方法 [P]. 
唐秋逸 ;
相宇阳 ;
俞胜武 ;
陈剑 .
中国专利 :CN117542759B ,2024-07-09
[3]   一种薄膜方块电阻的测量方法 [P]. 
谢雨江 .
中国专利 :CN120314654A ,2025-07-15
[4]   一种方块电阻的测量方法 [P]. 
舒适 ;
孙冰 ;
张斌 ;
卢珂鑫 ;
石岳 ;
吕志军 .
中国专利 :CN103884912B ,2014-06-25
[5]   导电薄膜方块电阻多探针测量方法及测量头 [P]. 
刘相华 .
中国专利 :CN110426558B ,2024-03-05
[6]   导电薄膜方块电阻多探针测量方法及测量头 [P]. 
刘相华 .
中国专利 :CN110426558A ,2019-11-08
[7]   电阻测量装置及电阻测量方法 [P]. 
山下宗寛 .
中国专利 :CN109997046B ,2019-07-09
[8]   电阻测量装置和电阻测量方法 [P]. 
高原大辅 .
中国专利 :CN110023768B ,2019-07-16
[9]   电阻测量装置及其电阻测量方法 [P]. 
李基龙 .
韩国专利 :CN117990987A ,2024-05-07
[10]   半导体测试结构、制造方法及方块电阻测量方法 [P]. 
蒲奎 ;
杜文芳 ;
曾军 ;
穆罕默德·恩·达维希 ;
苏世宗 .
中国专利 :CN109309079B ,2019-02-05