一种方块电阻的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410096391.1

申请日：

2014-03-14

公开(公告)号：

CN103884912B

公开(公告)日：

2014-06-25

发明(设计)人：

舒适孙冰张斌卢珂鑫石岳吕志军

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

黄志华

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-25	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20140314 授权公告日:20160907 终止日期:20210314
2016-09-07	授权	授权
2014-06-25	公开	公开
2014-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583891680 IPC(主分类):G01R 27/02 专利申请号:2014100963911 申请日:20140314

共 50 条

[1] 方块电阻测量方法以及方块电阻测量装置 [P].

韦敏侠 ;

谢佳佳 .

中国专利 :CN102621390A ,2012-08-01

[2] 一种薄膜方块电阻的测量方法 [P].

谢雨江 .

中国专利 :CN120314654A ,2025-07-15

[3] 方块电阻测量装置及测量方法 [P].

唐秋逸 ;

相宇阳 ;

俞胜武 ;

陈剑 .

中国专利 :CN117542759A ,2024-02-09

[4] 方块电阻测量装置及测量方法 [P].

唐秋逸 ;

相宇阳 ;

俞胜武 ;

陈剑 .

中国专利 :CN117542759B ,2024-07-09

[5] 电阻仪探针位置的校正方法及方块电阻的测量方法 [P].

梁海林 ;

丁同国 ;

孙洪福 .

中国专利 :CN112927948A ,2021-06-08

[6] 半导体结构及其制备方法、方块电阻的测量方法 [P].

周宁宁 ;

陈立业 ;

张德培 .

中国专利 :CN117116915B ,2024-01-19

[7] 导电薄膜方块电阻多探针测量方法及测量头 [P].

刘相华 .

中国专利 :CN110426558B ,2024-03-05

[8] 导电薄膜方块电阻多探针测量方法及测量头 [P].

刘相华 .

中国专利 :CN110426558A ,2019-11-08

[9] 一种基于电阻法的金属薄膜厚度测量方法 [P].

潘淼 ;

王锋 ;

徐峰 ;

陈文志 ;

苏建志 ;

吴平辉 ;

谢清来 .

中国专利 :CN112097626A ,2020-12-18

[10] 一种电阻测量电路及其电阻测量方法 [P].

孟现柱 ;

赵红 ;

王明红 ;

王晓伟 .

中国专利 :CN119780533A ,2025-04-08

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