一种成像光谱仪辐射定标精度对数据质量影响分析方法

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专利类型
发明
申请号
CN201210369941.3
申请日
2012-09-28
公开(公告)号
CN102879094B
公开(公告)日
2013-01-16
发明(设计)人
贾国瑞 雷浩 赵慧洁 张颖
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
代理机构
北京慧泉知识产权代理有限公司 11232
代理人
王顺荣;唐爱华
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
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