基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910549729.7
申请日
2019-06-24
公开(公告)号
CN110261319B
公开(公告)日
2019-09-20
发明(设计)人
权乃承
申请人
申请人地址
710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号
IPC主分类号
G01N2121
IPC分类号
代理机构
西安弘理专利事务所 61214
代理人
杜娟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]   基于车载的测量装置及测量方法 [P]. 
田玲 ;
秦科 ;
张栗粽 .
中国专利 :CN107830912A ,2018-03-23
[22]   一种穆勒矩阵测量系统及测量方法 [P]. 
张元志 ;
王贻坤 ;
王全福 ;
张洋 ;
邓国庆 ;
刘勇 .
中国专利 :CN115200712B ,2025-04-29
[23]   矩阵测量平台及其测量方法 [P]. 
杨付四 ;
岳双成 ;
韦永亮 ;
石超 ;
梁建国 .
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[24]   一种基于光谱干涉装置的测量方法 [P]. 
不公告发明人 .
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[25]   光学测量装置及测量方法 [P]. 
潘鼎翔 ;
杨顺全 .
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[26]   多光谱颜色测量方法 [P]. 
王岩松 ;
都卫东 ;
王郑 ;
章春娥 .
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[27]   光束斯托克斯参量测量装置及测量方法 [P]. 
汤飞龙 ;
李中梁 ;
王向朝 ;
步扬 ;
曹绍谦 .
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[28]   一种基于声波矩阵的液体流量测量装置及测量方法 [P]. 
崔石磊 ;
孙鹏华 ;
纪迎春 ;
马建国 ;
张伟峰 .
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[29]   一种基于声波矩阵的液体流量测量装置及测量方法 [P]. 
崔石磊 ;
孙鹏华 ;
纪迎春 ;
马建国 ;
张伟峰 .
中国专利 :CN108387279B ,2024-05-24
[30]   基于光谱干涉的透明材料折射率及厚度测量装置和测量方法 [P]. 
刘建华 ;
张克 ;
陶李 ;
程文凯 ;
陈忠平 .
中国专利 :CN103983609A ,2014-08-13