一种Mueller矩阵的自校准测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201210472669.1
申请日
2012-11-21
公开(公告)号
CN103837476A
公开(公告)日
2014-06-04
发明(设计)人
侯俊峰
申请人
申请人地址
100012 北京市朝阳区大屯路甲20号国家天文台
IPC主分类号
G01N2121
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[21]   带有自校准功能的智能水表测量方法 [P]. 
王成李 ;
朱恒杰 ;
马宏斌 ;
赵伟国 ;
林冠儒 .
中国专利 :CN112729486A ,2021-04-30
[22]   具备自校准功能的太赫兹源发散角测量装置及测量方法 [P]. 
李宏光 ;
马世帮 ;
解琪 .
中国专利 :CN109029718A ,2018-12-18
[23]   一种圆度的自校准方法及其测量装置 [P]. 
徐燕 ;
颜全椿 ;
常曼 ;
张开骁 ;
朱卫华 ;
刘明熠 .
中国专利 :CN101701812A ,2010-05-05
[24]   一种利用矩阵测量平台对焊接车身架进行测量的测量方法 [P]. 
杨付四 ;
岳双成 ;
韦永亮 ;
石超 ;
梁建国 .
中国专利 :CN113587765B ,2024-01-30
[25]   一种具有自校准功能的广域计量装置及其测量方法 [P]. 
杨征英 ;
薛东升 ;
黄倩 ;
赵利刚 ;
路全 ;
仇雅冰 ;
高英才 ;
王文文 .
中国专利 :CN117907924B ,2024-07-02
[26]   一种基于自校准的导通绝缘电阻精确测量方法 [P]. 
王哲 ;
殷虎 ;
张涛涛 ;
李静 ;
董海迪 ;
袁胜智 .
中国专利 :CN118566585A ,2024-08-30
[27]   一种具有自校准功能的广域计量装置及其测量方法 [P]. 
杨征英 ;
薛东升 ;
黄倩 ;
赵利刚 ;
路全 ;
仇雅冰 ;
高英才 ;
王文文 .
中国专利 :CN117907924A ,2024-04-19
[28]   一种薄膜厚度的测量方法以及测量装置 [P]. 
李政 .
中国专利 :CN114018199A ,2022-02-08
[29]   自校准投入式压力液位计及测量方法 [P]. 
王瑞 ;
王璞 ;
王定华 .
中国专利 :CN102279029A ,2011-12-14
[30]   基于四次光强测量的Mueller型椭偏仪椭偏参数测量方法及装置 [P]. 
胡浩丰 ;
刘铁根 ;
李校博 .
中国专利 :CN109459138A ,2019-03-12