光学元件检测方法和装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810403826.0

申请日：

2018-04-28

公开(公告)号：

CN108716983A

公开(公告)日：

2018-10-30

发明(设计)人：

谭国辉白剑田志华

申请人：

申请人地址：

523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G06T700

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

方高明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-30	公开	公开
2018-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20180428
2019-07-23	授权	授权

共 50 条

[21] 图像检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

刘昊岳 ;

殷雨昕 ;

刘设伟 .

中国专利 :CN113538413A ,2021-10-22

[22] 目标对象检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

何天乐 ;

轩诗宇 .

中国专利 :CN112926399A ,2021-06-08

[23] 轴箱故障检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

史晓春 ;

祁金文 ;

庄旭升 .

中国专利 :CN119666368A ,2025-03-21

[24] 图像检测方法和装置、计算机可读存储介质和电子设备 [P].

蔡鑫 ;

潘伟凡 ;

袁首 .

中国专利 :CN113344921B ,2021-09-03

[25] 光学检测装置、检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

马林 ;

吴超 ;

黄云龙 ;

陈曼 .

中国专利 :CN115656197A ,2023-01-31

[26] 检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

侯欣如 ;

薛方 ;

金翔 ;

王鼎禄 .

中国专利 :CN112380968A ,2021-02-19

[27] 内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P].

陈安宝 ;

张辉 .

中国专利 :CN118964047A ,2024-11-15

[28] 内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P].

陈安宝 ;

张辉 .

中国专利 :CN118964047B ,2025-01-07

[29] 距离检测方法、控制方法、装置、存储介质与电子设备 [P].

邱榆清 .

中国专利 :CN113920195B ,2025-03-14

[30] 存储器检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

第五天昊 .

中国专利 :CN114822675A ,2022-07-29

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