位移测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210591981.2

申请日：

2012-12-29

公开(公告)号：

CN103075966A

公开(公告)日：

2013-05-01

发明(设计)人：

张书练曾召利谈宜东李岩

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区北京100084-82信箱

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

代理机构：

深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311

代理人：

哈达

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20121229 授权公告日:20151125 终止日期:20191229
2015-11-25	授权	授权
2013-05-01	公开	公开
2013-06-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101465118613 IPC(主分类):G01B 11/02 专利申请号:2012105919812 申请日:20121229

共 50 条

[31] 位移测量系统及光刻设备 [P].

高立冬 ;

焦健 ;

袁鹏 ;

高嘉铭 ;

潘金明 .

中国专利 :CN113804112A ,2021-12-17

[32] 建筑物位移测量系统 [P].

石晶欣 ;

李飞 ;

刘辉 .

中国专利 :CN204718553U ,2015-10-21

[33] 位移测量系统及光刻设备 [P].

高立冬 ;

焦健 ;

袁鹏 ;

高嘉铭 ;

潘金明 .

中国专利 :CN113804112B ,2024-09-06

[34] 光栅尺位移测量系统 [P].

王磊杰 ;

张鸣 ;

张丽婷 ;

叶伟楠 ;

朱煜 ;

亓杰 ;

成荣 ;

李鑫 .

中国专利 :CN120274642A ,2025-07-08

[35] 位移测量装置、测量系统及位移测量方法 [P].

近藤智则 ;

铃木祐太 ;

的场贤一 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN109557545A ,2019-04-02

[36] 位移测量系统、光刻设备、位移测量方法和装置制造方法 [P].

B·A·J·卢蒂克休斯 ;

H·H·M·科克斯 ;

E·R·卢普斯特拉 ;

E·A·F·范德帕施 ;

H·K·范德舒特 .

中国专利 :CN101071276A ,2007-11-14

[37] 一种用于衍射光栅位移测量系统的干涉测量装置 [P].

刘守斌 ;

毕江林 ;

束名扬 .

中国专利 :CN206618387U ,2017-11-07

[38] 一种拉线位移计及位移测量系统 [P].

黄礼贵 ;

练裕锋 ;

苏禄广 ;

卢庆庆 ;

谢明杰 .

中国专利 :CN216815396U ,2022-06-24

[39] 巷道断面位移测量系统及测量方法 [P].

张辉 ;

赵阳羲 ;

王正胜 ;

李帅 ;

蔡志华 .

中国专利 :CN112033285A ,2020-12-04

[40] 基坑围护结构位移测量系统的位移测量方法及相关系统 [P].

缪丹 ;

叶建新 ;

曾绮琪 ;

郭荣幸 ;

黄启帆 ;

汪秀清 ;

王凤之 ;

陈洋 ;

刘浩枫 ;

何楚韶 ;

刘权 .

中国专利 :CN118007712A ,2024-05-10

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