三维测量装置、三维测量方法及三维测量用程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080040427.8

申请日：

2020-02-25

公开(公告)号：

CN113874677A

公开(公告)日：

2021-12-31

发明(设计)人：

林笃司高地伸夫七夕高也矶部祥子

申请人：

申请人地址：

日本千叶县

IPC主分类号：

G01B11245

IPC分类号：

G06T100

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

闫小龙;姜冰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-31	公开	公开
2022-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/245 申请日:20200225

共 50 条

[41] 三维形状测量方法以及三维形状测量装置 [P].

堀口宏贞 ;

成松修司 ;

长谷川浩 .

中国专利 :CN114166149A ,2022-03-11

[42] 三维测量装置 [P].

石垣裕之 ;

间宫高弘 .

中国专利 :CN109690236B ,2019-04-26

[43] 三维测量装置 [P].

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

间宫高弘 ;

石垣裕之 .

中国专利 :CN107532891A ,2018-01-02

[44] 三维测量装置 [P].

间宫高弘 .

中国专利 :CN103562673B ,2014-02-05

[45] 三维测量装置 [P].

广瀬和义 ;

龟井宏记 ;

杉山贵浩 ;

渡边明佳 .

中国专利 :CN113295110A ,2021-08-24

[46] 三维测量装置 [P].

今枝昭弘 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

中国专利 :CN107532889A ,2018-01-02

[47] 三维测量装置 [P].

池渊正康 ;

下中秀二 ;

酒井均 ;

松户翔太 .

日本专利 :CN120548454A ,2025-08-26

[48] 三维测量装置 [P].

若井达郎 ;

池渊正康 ;

松谷淳史 .

日本专利 :CN120615158A ,2025-09-09

[49] 三维测量装置 [P].

本间达朗 ;

里吉宽之 .

中国专利 :CN108253886B ,2018-07-06

[50] 三维测量装置 [P].

梅村信行 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

奥田学 .

中国专利 :CN108139208B ,2018-06-08

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