光学检测方法及光学检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610809472.0

申请日：

2016-09-07

公开(公告)号：

CN106442540A

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

高鸿飞高琪陈广飞马纪艳

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;刘伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101708782305 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2016108094720 申请日:20160907
2017-02-22	公开	公开
2020-08-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/88 申请公布日:20170222

共 50 条

[21] 光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P].

谈顺毅 .

中国专利 :CN113218630A ,2021-08-06

[22] 光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P].

谈顺毅 .

中国专利 :CN113218630B ,2024-02-13

[23] 光学检测方法、系统及光学器件制造系统 [P].

谈顺毅 .

中国专利 :CN109520712B ,2019-03-26

[24] 光学检测设备及光学检测系统 [P].

黄永祯 ;

王凯 ;

周运超 .

中国专利 :CN210108992U ,2020-02-21

[25] 光学检测系统及光学检测装置 [P].

赵迪迪 ;

李小虎 ;

李永杰 ;

熊星 ;

潘铁伟 .

中国专利 :CN217505680U ,2022-09-27

[26] 光学检测装置及光学检测系统 [P].

孔祥吉 ;

杨永琦 ;

王晓飞 ;

姜海洋 .

中国专利 :CN114184614A ,2022-03-15

[27] 光学检测芯片及光学检测系统 [P].

李丞祐 ;

平川清 ;

奥田浩史 .

日本专利 :CN117813500A ,2024-04-02

[28] 光学检测系统及光学检测系统工作方法 [P].

颜孟新 ;

王威 ;

周忠诚 .

中国专利 :CN103293102B ,2013-09-11

[29] 光学检测系统及其检测方法 [P].

吴其霖 ;

安国律多 ;

罗安钧 .

中国专利 :CN106896109A ,2017-06-27

[30] 光学检测装置及光学检测方法 [P].

杨善 ;

龚士勋 ;

黄彦桦 .

中国专利 :CN119845149A ,2025-04-18

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