靶面杂光光照度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610834633.1

申请日：

2016-09-20

公开(公告)号：

CN107843335B

公开(公告)日：

2018-03-27

发明(设计)人：

郭帮辉

申请人：

申请人地址：

266071 山东省青岛市市南区东海西路17号

IPC主分类号：

G01J100

IPC分类号：

G01J104

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

邢雪红;乔彬

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-27	公开	公开
2018-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 申请日:20160920
2019-09-20	授权	授权

共 50 条

[21] 太阳辐射照度测量装置和测量方法 [P].

尹凯丽 ;

张晓静 ;

谢静超 ;

郝梓仰 ;

景鹏飞 ;

刘加平 .

中国专利 :CN114485924A ,2022-05-13

[22] 太阳辐射照度测量装置和测量方法 [P].

尹凯丽 ;

张晓静 ;

谢静超 ;

郝梓仰 ;

景鹏飞 ;

刘加平 .

中国专利 :CN114485924B ,2024-10-29

[23] 辊面温度精确测量装置以及测量方法 [P].

高齐 ;

金小礼 ;

吴存有 ;

周月明 .

中国专利 :CN106475426B ,2017-03-08

[24] 圆周式照度测量系统及测量方法 [P].

宋健 ;

葛欣宏 ;

韩景壮 .

中国专利 :CN112747905A ,2021-05-04

[25] 一种宽量程微弱光照度测量装置 [P].

俞兵 ;

陈娟 ;

曹锋 ;

黎高平 ;

吴宝宁 ;

李宏光 ;

袁良 ;

范继红 .

中国专利 :CN108120501A ,2018-06-05

[26] 封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168A ,2024-05-10

[27] 辐照测量仪平面光照度采集板 [P].

张国祥 ;

王超 .

中国专利 :CN308529149S ,2024-03-22

[28] 封装杂散参数的测量装置及测量方法 [P].

李博强 ;

宫群 ;

卢韦珊 ;

朱贤龙 .

中国专利 :CN118011168B ,2025-09-02

[29] 生理等效照度测量方法及装置 [P].

瞿燕 ;

胡国霞 .

中国专利 :CN119357423A ,2025-01-24

[30] 测量方法及测量装置 [P].

富田晓 ;

平田教行 .

日本专利 :CN118335721A ,2024-07-12

← 1 2 3 4 5 →