光谱测量装置与程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210109429.5

申请日：

2012-04-13

公开(公告)号：

CN102818792A

公开(公告)日：

2012-12-12

发明(设计)人：

小田龙太郎

申请人：

申请人地址：

日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N2131 G01N3074

代理机构：

上海市华诚律师事务所 31210

代理人：

肖华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-10-29	授权	授权
2013-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101389923937 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2012101094295 申请日:20120413
2012-12-12	公开	公开

共 50 条

[1] 光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[2] 光谱测量装置 [P].

比约恩·哈斯 ;

约阿希姆·博勒 .

中国专利 :CN109799194B ,2019-05-24

[3] 光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[4] 光谱测量装置 [P].

王唯科 .

中国专利 :CN106404684B ,2017-02-15

[5] 光谱测量系统 [P].

J·蒋 ;

M·斯科特 ;

E·若弗里翁 ;

A·凯布尔 .

中国专利 :CN107003232B ,2017-08-01

[6] 光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[7] 光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[8] 一种光谱测量装置 [P].

董翊 .

中国专利 :CN212621084U ,2021-02-26

[9] 光谱测量设备 [P].

吴万龙 ;

金颖康 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 .

中国专利 :CN120369116A ,2025-07-25

[10] 光谱测量系统 [P].

周安萌 .

中国专利 :CN214372918U ,2021-10-08

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