电源电压检测电路、半导体集成电路装置以及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610429064.2

申请日：

2016-06-16

公开(公告)号：

CN106292975A

公开(公告)日：

2017-01-04

发明(设计)人：

阿部祐之

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G06F126

IPC分类号：

G06F128

代理机构：

北京金信知识产权代理有限公司 11225

代理人：

苏萌萌;许梅钰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-04	公开	公开
2018-05-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 1/26 申请日:20160616
2020-12-29	授权	授权

共 50 条

[21] 半导体集成电路 [P].

富田浩由 .

中国专利 :CN100340942C ,2006-04-05

[22] 半导体集成电路 [P].

竹内淳 .

中国专利 :CN1307720C ,2005-11-30

[23] 半导体集成电路 [P].

森野直纯 ;

入田隆宏 ;

五十岚康人 .

中国专利 :CN1925327A ,2007-03-07

[24] 半导体集成电路 [P].

米山刚 .

中国专利 :CN1242477C ,2004-03-31

[25] 电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN111595494B ,2020-08-28

[26] 电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN114924128A ,2022-08-19

[27] 电容检测电路、集成电路、电子设备以及电容检测方法 [P].

陈培腾 ;

陈敏 ;

吴红兵 .

中国专利 :CN114924128B ,2024-08-27

[28] 半导体集成电路的电源电压变换电路 [P].

柳济焕 ;

李彰浩 .

中国专利 :CN1117662A ,1996-02-28

[29] 半导体集成电路以及包括其的电子设备 [P].

北川笃 ;

泽田纮司 .

中国专利 :CN101119064A ,2008-02-06

[30] 电压检测电路、电源装置以及半导体装置 [P].

八谷佳明 .

中国专利 :CN1684351A ,2005-10-19

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