一种基于前景网格的结构表面应变测量系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011340322.2

申请日：

2020-11-25

公开(公告)号：

CN112504156A

公开(公告)日：

2021-03-16

发明(设计)人：

陈春华范学明徐郁峰

申请人：

申请人地址：

511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院

IPC主分类号：

G01B1116

IPC分类号：

G01B1100

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

常柯阳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-16	公开	公开
2022-11-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/16 申请公布日:20210316
2021-04-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/16 申请日:20201125

共 50 条

[41] 测量方法及测量系统 [P].

张孟卓 ;

薛霞铭 ;

谷文举 ;

张丽炜 ;

曹倩 ;

陈纪喆 .

中国专利 :CN120594335A ,2025-09-05

[42] 半导体结构的测量方法及测量系统 [P].

李宗翰 ;

刘志拯 .

中国专利 :CN115588622B ,2025-06-20

[43] 半导体结构的测量方法及测量系统 [P].

李宗翰 ;

刘志拯 .

中国专利 :CN115588622A ,2023-01-10

[44] 一种测量方法、测量系统及测量设备 [P].

陈鲁 ;

刘欢敏 ;

贺金龙 ;

张嵩 .

中国专利 :CN117781923A ,2024-03-29

[45] 测量系统及测量方法 [P].

高明祺 ;

林毅俊 ;

王顺星 ;

陈柏徵 .

中国专利 :CN102269643A ,2011-12-07

[46] 测量系统及测量方法 [P].

张泓恺 ;

苏忠耀 ;

张秋贤 .

中国专利 :CN103575983B ,2014-02-12

[47] 测量方法及测量系统 [P].

易致礼 ;

沈晴鹤 ;

张骏 .

中国专利 :CN115143883A ,2022-10-04

[48] 测量系统及测量方法 [P].

刘小明 ;

俞俊生 ;

陈晓东 ;

姚远 ;

亓丽梅 ;

陈智娇 ;

王海 ;

单广帅 ;

许仁杰 .

中国专利 :CN105974201A ,2016-09-28

[49] 测量系统及测量方法 [P].

李宜音 ;

张增怡 .

中国专利 :CN115561567A ,2023-01-03

[50] 测量方法及测量系统 [P].

刘海珂 ;

曹君 ;

朴凯 ;

张亚军 ;

张永胜 ;

路宏杰 ;

肖兰 ;

夏君 .

中国专利 :CN120489068A ,2025-08-15

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