光学特性测量系统与方法

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专利类型
发明
申请号
CN200910311948.8
申请日
2009-12-21
公开(公告)号
CN102103034B
公开(公告)日
2011-06-22
发明(设计)人
叶肇懿 黄仲志 颜荣毅
申请人
申请人地址
201600 上海市松江区松江工业区西部科技工业园区文吉路500号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[41]   测量设备与物理特性测量装置 [P]. 
林庭瑜 .
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[42]   用于校准光学测量系统的方法和光学测量系统 [P]. 
M·J·詹森 ;
刘平 .
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[43]   光学测量系统和包括所述光学测量系统的方法 [P]. 
拉尔夫·伯恩哈特 ;
曼弗雷德·亚杰拉 .
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[44]   光学测量系统及基于光学测量系统的成像方法 [P]. 
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[46]   光纤特性测量系统和方法 [P]. 
让-吕克·阿尔尚博 ;
曹松 ;
金娜英 .
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