光学特性测量系统与方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910311948.8

申请日：

2009-12-21

公开(公告)号：

CN102103034B

公开(公告)日：

2011-06-22

发明(设计)人：

叶肇懿黄仲志颜荣毅

申请人：

申请人地址：

201600 上海市松江区松江工业区西部科技工业园区文吉路500号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-22	公开	公开
2012-08-22	授权	授权
2012-11-14	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101464351799 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2009103119488 变更事项:专利权人变更前:富士迈半导体精密工业(上海)有限公司变更后:富士迈半导体精密工业(上海)有限公司变更事项:地址变更前:201600 上海市松江区松江工业区西部科技工业园区文吉路500号变更后:201600 上海市松江区松江工业区西部科技工业园区文吉路500号变更事项:专利权人变更前:沛鑫能源科技股份有限公司变更后:晶鼎能源科技股份有限公司
2011-08-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101094137661 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2009103119488 申请日:20091221
2015-02-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101598339975 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2009103119488 申请日:20091221 授权公告日:20120822 终止日期:20131221

共 50 条

[1] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[2] 光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P].

小野修司 .

中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06

[3] 光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

[4] 液晶单元的光学特性测量系统及其方法 [P].

刘志祥 ;

庄凯评 ;

林友崧 .

中国专利 :CN101762891A ,2010-06-30

[5] 一种光学特性测量系统及其应用方法 [P].

范小礼 ;

王静 ;

苏必达 ;

武敬力 .

中国专利 :CN108802754B ,2018-11-13

[6] 均匀度测量系统与方法 [P].

叶肇懿 ;

黄仲志 ;

颜荣毅 .

中国专利 :CN102109413B ,2011-06-29

[7] 光学特性自动测量系统(DM-205) [P].

梁田喜 .

中国专利 :CN305075286S ,2019-03-22

[8] 光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P].

前田穣 .

中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16

[9] 一种全波段光学特性测量系统 [P].

彭月 ;

苏必达 ;

孙腾 ;

范博昭 ;

陈红 .

中国专利 :CN119595249A ,2025-03-11

[10] 光学特性测量装置 [P].

大久保和明 ;

白岩久志 .

中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12

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