非接触式集成电路读取器、检测方法、检测电路及其系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410093062.1

申请日：

2014-03-13

公开(公告)号：

CN104050432A

公开(公告)日：

2014-09-17

发明(设计)人：

金俊镐卢衡焕宋壹种

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道水原市

IPC主分类号：

G06K700

IPC分类号：

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

曾世骁;鲁恭诚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101653306990 IPC(主分类):G06K 7/00 专利申请号:2014100930621 申请日:20140313
2018-07-06	授权	授权
2014-09-17	公开	公开

共 50 条

[41] 非接触集成电路标签系统 [P].

桥本繁 ;

波江野正 .

中国专利 :CN1719459A ,2006-01-11

[42] 集成电路温度检测系统 [P].

郑其木 ;

谢征君 .

中国专利 :CN212988603U ,2021-04-16

[43] 用于集成电路的检测电路和方法 [P].

陈先敏 ;

杨家奇 .

中国专利 :CN105301483B ,2016-02-03

[44] 用于非接触读取器装置的电子电路 [P].

伯恩哈德·斯皮斯 ;

帕米尔·埃尔代尼兹 ;

迈克尔·岑茨 .

中国专利 :CN101292254A ,2008-10-22

[45] 一种负载检测电路及其检测方法、集成电路以及电子设备 [P].

赖奕佳 ;

王伟 ;

杨乐 .

中国专利 :CN113852145B ,2024-08-02

[46] 一种负载检测电路及其检测方法、集成电路以及电子设备 [P].

赖奕佳 ;

王伟 ;

杨乐 .

中国专利 :CN113852145A ,2021-12-28

[47] 集成电路动态时序检测方法 [P].

王斌 ;

谈杰 .

中国专利 :CN102254055B ,2011-11-23

[48] 集成电路芯片防伪检测方法 [P].

谢小东 ;

杨祎 ;

任子木 .

中国专利 :CN109765476A ,2019-05-17

[49] 集成电路芯片的检测方法 [P].

张成 ;

姚燕杰 ;

王丽 ;

位贤龙 .

中国专利 :CN113686895A ,2021-11-23

[50] 非接触式到位检测电路 [P].

曾茂龙 ;

胡文林 ;

侯兴凯 .

中国专利 :CN216052220U ,2022-03-15

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