一种红外焦平面阵列变积分时间下的自适应校正方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510272545.2
申请日
2015-05-25
公开(公告)号
CN105136308A
公开(公告)日
2015-12-09
发明(设计)人
张守荣 王华 张大鹏 张旭 刘涛 潘卫军
申请人
申请人地址
100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱
IPC主分类号
G01J500
IPC分类号
代理机构
中国航天科技专利中心 11009
代理人
臧春喜
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]   焦平面阵列的非均匀性校正方法以及装置 [P]. 
崔东伟 ;
常智杰 ;
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[22]   焦平面阵列的非均匀性校正方法以及装置 [P]. 
崔东伟 ;
常智杰 ;
王伟明 .
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[23]   一种红外焦平面阵列及其制作方法 [P]. 
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