三维测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010002371.5
申请日
2010-01-12
公开(公告)号
CN101782525B
公开(公告)日
2010-07-21
发明(设计)人
石垣裕之
申请人
申请人地址
日本国爱知县
IPC主分类号
G01N2184
IPC分类号
代理机构
北京三幸商标专利事务所 11216
代理人
刘激扬
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]   三维测量装置 [P]. 
梅村信行 ;
石垣裕之 .
中国专利 :CN101782375A ,2010-07-21
[2]   三维测量装置 [P]. 
大山刚 ;
坂井田宪彦 ;
间宫高弘 ;
石垣裕之 .
中国专利 :CN107532891A ,2018-01-02
[3]   三维测量装置 [P]. 
石垣裕之 .
中国专利 :CN103162642A ,2013-06-19
[4]   三维测量装置 [P]. 
大山刚 ;
坂井田宪彦 ;
间宫高弘 ;
石垣裕之 .
中国专利 :CN107110643A ,2017-08-29
[5]   三维测量装置 [P]. 
石垣裕之 .
中国专利 :CN103123255A ,2013-05-29
[6]   三维测量装置 [P]. 
梅村信行 ;
间宫高弘 ;
石垣裕之 .
中国专利 :CN103162641B ,2013-06-19
[7]   三维测量装置 [P]. 
大山刚 ;
坂井田宪彦 ;
二村伊久雄 .
中国专利 :CN108700409A ,2018-10-23
[8]   三维测量装置 [P]. 
间宫高弘 ;
石垣裕之 .
中国专利 :CN103245301A ,2013-08-14
[9]   三维测量装置和三维测量方法 [P]. 
奥田学 ;
大山刚 ;
坂井田宪彦 .
日本专利 :CN113966457B ,2024-06-11
[10]   三维测量装置以及三维测量方法 [P]. 
大山刚 ;
坂井田宪彦 ;
二村伊久雄 .
中国专利 :CN107429992B ,2017-12-01