程序测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010456655.5

申请日：

2020-05-26

公开(公告)号：

CN113722203A

公开(公告)日：

2021-11-30

发明(设计)人：

孔改捧张宇

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06K962

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

王辉;阚梓瑄

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股有限公司变更后:京东数字科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-11-30	公开	公开
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股股份有限公司变更后:京东科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200526

共 50 条

[21] 测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

彭晓茂 .

中国专利 :CN108089982B ,2018-05-29

[22] 回归测试方法和装置、电子设备、计算机可读介质 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN113986758A ,2022-01-28

[23] 设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

朱燕雄 ;

叶强 ;

陈木崇 ;

王楠 ;

朱燕升 ;

赵燕 .

中国专利 :CN117834058A ,2024-04-05

[24] 抽奖程序的测试方法及装置、计算机存储介质、电子设备 [P].

方晓霖 ;

肖宇 ;

麦声栩 ;

赵才勇 .

中国专利 :CN113505081A ,2021-10-15

[25] 抽奖程序的测试方法及装置、计算机存储介质、电子设备 [P].

方晓霖 ;

肖宇 ;

麦声栩 ;

赵才勇 .

中国专利 :CN113505081B ,2024-02-23

[26] 测试用例生成方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

黄惠娜 .

中国专利 :CN110716869B ,2024-05-14

[27] 测试用例生成方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

黄惠娜 .

中国专利 :CN110716869A ,2020-01-21

[28] 测试方法、测试系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

李鸣 ;

肖云 ;

张奎 ;

司骞 .

中国专利 :CN117806953A ,2024-04-02

[29] 模糊测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

胡进 ;

刘明 .

中国专利 :CN117950979A ,2024-04-30

[30] 模拟测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

刘一卓 ;

王伟 .

中国专利 :CN110765024A ,2020-02-07

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