程序测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010456655.5

申请日：

2020-05-26

公开(公告)号：

CN113722203A

公开(公告)日：

2021-11-30

发明(设计)人：

孔改捧张宇

申请人：

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06K962

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

王辉;阚梓瑄

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股有限公司变更后:京东数字科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-11-30	公开	公开
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股股份有限公司变更后:京东科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20200526

共 50 条

[1] 测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

何小龙 ;

吴智明 ;

王浩 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16

[2] 测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

佘西敏 ;

朱志杰 .

中国专利 :CN117112451B ,2024-02-09

[3] 软件测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

白凯敏 ;

宛明晔 ;

刘淼 ;

尚朝军 .

中国专利 :CN117435464A ,2024-01-23

[4] 程序测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

马兴龙 ;

陈强 ;

陈丕敏 .

中国专利 :CN114185773A ,2022-03-15

[5] 程序测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

马兴龙 ;

陈强 ;

陈丕敏 .

中国专利 :CN114185773B ,2025-04-15

[6] 接口测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陆军辉 ;

吴凯亮 ;

司徒嘉俊 .

中国专利 :CN118152293A ,2024-06-07

[7] 测试处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

熊严飞 ;

王春跃 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112929230B ,2021-06-08

[8] 测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

顾振飞 .

中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02

[9] 程序测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

何军 ;

曾琳铖曦 ;

俞敏 ;

谌立 .

中国专利 :CN117950991A ,2024-04-30

[10] 测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

曲乐炜 ;

柯懂湘 .

中国专利 :CN114070752A ,2022-02-18

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