一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110745444.8

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113670950A

公开(公告)日：

2021-11-19

发明(设计)人：

岳增祥陈后财朱庆林刘萱海阿静吕正阳

申请人：

申请人地址：

266107 山东省青岛市城阳区仙山东路36号

IPC主分类号：

G01N2200

IPC分类号：

G01V312 G01V1300

代理机构：

青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317

代理人：

封代臣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 22/00 申请日:20210630
2021-11-19	公开	公开

共 50 条

[41] 一种微波辐射计间接测量露点温度方法及系统 [P].

刘俊 ;

缪明榕 ;

张宏亮 ;

田鹏飞 .

中国专利 :CN112034007B ,2024-03-01

[42] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214A ,2024-05-07

[43] 一种微波辐射计间接测量露点温度方法及系统 [P].

刘俊 ;

缪明榕 ;

张宏亮 ;

田鹏飞 .

中国专利 :CN112034007A ,2020-12-04

[44] 材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214B ,2025-05-13

[45] 多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[46] 一种面料红外发射率的测量方法 [P].

陈益松 ;

王砚 .

中国专利 :CN107748177A ,2018-03-02

[47] 一种星载一维综合孔径微波辐射测量系统及测量方法 [P].

陈雄 ;

赵锋 ;

姚崇斌 ;

谢振超 ;

刘婧 ;

陈桂莲 ;

李丹 ;

李强 ;

查晓晨 ;

张鑫裴 ;

张理正 .

中国专利 :CN109541325A ,2019-03-29

[48] 一种基于集成黑体法变飞行时间的材料发射率测量装置及测量方法 [P].

董伟 ;

宋旭尧 ;

安保林 ;

原遵东 ;

王铁军 ;

卢小丰 ;

王景辉 .

中国专利 :CN114264375A ,2022-04-01

[49] 一种辐射测量方法和辐射测量系统 [P].

杨静 ;

王红玉 ;

侯金兵 ;

杭仲斌 .

中国专利 :CN116299627B ,2025-08-05

[50] 发射光栅有效发射长度的测量系统及测量方法 [P].

王金玉 ;

蔡艳 ;

岳文成 .

中国专利 :CN116577073B ,2025-08-05

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