共 50 条
高精度光学间隔测量装置和测量方法
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN201410472652.5
申请日:
2014-09-17
公开(公告)号:
CN104215176A
公开(公告)日:
2014-12-17
发明(设计)人:
杨宝喜
魏张帆
胡小邦
李璟
陈明
朱菁
薛佩佩
黄惠杰
申请人:
申请人地址:
201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
IPC主分类号:
G01B1100
IPC分类号:
代理机构:
上海新天专利代理有限公司 31213
代理人:
张泽纯;张宁展
法律状态:
专利申请权、专利权的转移
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2019-10-22 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/00 登记生效日:20190926 变更事项:专利权人 变更前权利人:中国科学院上海光学精密机械研究所 变更后权利人:北京国望光学科技有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱 变更后权利人:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号52幢6层601-10室 |
2015-01-07 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101594989093 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2014104726525 申请日:20140917 |
2014-12-17 | 公开 | 公开 |
2017-02-08 | 授权 | 授权 |