时间分辨光谱的测量方法及测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410073839.4

申请日：

2004-09-06

公开(公告)号：

CN1587929A

公开(公告)日：

2005-03-02

发明(设计)人：

黄世华梁春军崔尚科

申请人：

申请人地址：

100044北京市海淀区西直门外上园村3号

IPC主分类号：

G01J330

IPC分类号：

G01J328

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-03-02	公开	公开
2011-11-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101137110485 IPC(主分类):G01J 3/30 专利号:ZL2004100738394 申请日:20040906 授权公告日:20080604 终止日期:20100906
2005-05-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-06-04	授权	授权

共 50 条

[1] 上转换时间分辨光谱的测量方法和测量装置 [P].

董宁 ;

曲广媛 ;

郭海 ;

余飞鸿 .

中国专利 :CN101294901A ,2008-10-29

[2] 闪烁晶体单粒子激发时间分辨光谱的测量系统及测量方法 [P].

许孟轩 ;

陈亮 ;

欧阳晓平 .

中国专利 :CN108051842A ,2018-05-18

[3] 时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法 [P].

北泽健 ;

西泽充哲 ;

伊东孝 .

中国专利 :CN106716266A ,2017-05-24

[4] 用于角分辨偏振拉曼光谱的测量装置及测量方法 [P].

谢佳良 ;

林妙玲 ;

谭平恒 ;

刘涛 ;

刘雪璐 .

中国专利 :CN118443653A ,2024-08-06

[5] 时间测量装置和时间测量方法 [P].

盛廷义 .

中国专利 :CN115981128B ,2025-07-22

[6] 闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统 [P].

张泽涛 ;

王强 ;

丁雨憧 ;

王璐 ;

屈菁菁 ;

董鸿林 ;

甘禹 ;

李金 ;

徐扬 .

中国专利 :CN114152971B ,2024-11-22

[7] 闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统 [P].

张泽涛 ;

王强 ;

丁雨憧 ;

王璐 ;

屈菁菁 ;

董鸿林 ;

甘禹 ;

李金 ;

徐扬 .

中国专利 :CN114152971A ,2022-03-08

[8] 自由团簇时间分辨发光谱的测量方法 [P].

刘飞 ;

蒋逸伦 ;

韩民 .

中国专利 :CN114112042B ,2022-03-01

[9] 纳秒时间分辨的吸收和发射光谱测量装置和测量方法 [P].

徐大力 ;

韩克利 ;

刘建勇 ;

杨阳 ;

刘本康 ;

王艳秋 .

中国专利 :CN104062269B ,2014-09-24

[10] 时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置 [P].

阿部敬之 ;

斋藤雅史 ;

园田高大 .

中国专利 :CN115004557A ,2022-09-02

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