时间测量装置和时间测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211700638.7

申请日：

2022-12-28

公开(公告)号：

CN115981128B

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

盛廷义

申请人：

杭州脑芯科技有限公司

申请人地址：

310000 浙江省杭州市余杭区五常街道文一西路998号4幢703室

IPC主分类号：

G04F10/00

IPC分类号：

代理机构：

北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804

代理人：

王颖慧

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	授权	授权

共 50 条

[1] 时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置 [P].

阿部敬之 ;

斋藤雅史 ;

园田高大 .

中国专利 :CN115004557A ,2022-09-02

[2] 时间测量装置、荧光寿命测量装置及时间测量方法 [P].

新仓史智 .

日本专利 :CN115735115B ,2025-04-08

[3] 时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法 [P].

北泽健 ;

西泽充哲 ;

伊东孝 .

中国专利 :CN106716266A ,2017-05-24

[4] 时间测量电路、时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组和电子设备 [P].

王方波 .

中国专利 :CN114779607A ,2022-07-22

[5] 时间测量系统及时间测量方法 [P].

王培林 ;

魏书军 ;

李道武 ;

帅磊 ;

丰宝桐 ;

胡婷婷 ;

孙芸华 ;

魏龙 .

中国专利 :CN102736511A ,2012-10-17

[6] 时间测量电路及时间测量方法 [P].

赵伟超 ;

杨兴颖 ;

姚国生 .

中国专利 :CN119324704A ,2025-01-17

[7] 半导体设备、时间测量方法和时间测量程序 [P].

源马和明 .

中国专利 :CN118732546A ,2024-10-01

[8] 时间测量方法及装置 [P].

马梓翔 ;

周志辉 .

中国专利 :CN115061084B ,2025-06-24

[9] 时间测量方法及装置 [P].

马梓翔 ;

周志辉 .

中国专利 :CN115061084A ,2022-09-16

[10] 时间精密测量方法 [P].

李署坚 ;

宋伟宁 ;

文霄杰 ;

孙宇明 .

中国专利 :CN101515156A ,2009-08-26

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