SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR LOW-TEMPERATURE, HIGH MAGNETIC-FIELD, AND SPATIALLY RESOLVED SPECTROSCOPY

被引：61

作者：

FEIN, AP

KIRTLEY, JR

FEENSTRA, RM

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1987年 / 58卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1139524

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：1806 / 1810

页数：5

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共 11 条

[11] ELECTRONIC-STRUCTURE OF THE SI(111)2X1 SURFACE BY SCANNING-TUNNELING MICROSCOPY [J].

STROSCIO, JA ;

FEENSTRA, RM ;

FEIN, AP .

PHYSICAL REVIEW LETTERS, 1986, 57 (20) :2579-2582