ON THE DETERMINATION OF CRYSTAL AND COUNTER SETTINGS FOR A SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTOMETER

被引：10

作者：

ARNDT, UW

PHILLIPS, DC

机构：

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA | 1957年 / 10卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1107/S0365110X57001838

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页码：508 / 510

页数：3

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共 1 条

[1] APPARATUS FOR MEASURING COMPLETE SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA BY MEANS OF A GEIGER COUNTER DIFFRACTOMETER [J].

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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1955, 26 (05) :449-453