APPARATUS FOR MEASURING COMPLETE SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA BY MEANS OF A GEIGER COUNTER DIFFRACTOMETER

被引：120

作者：

FURNAS, TC

HARKER, D

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1955年 / 26卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1771322

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页码：449 / 453

页数：5

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