COMPUTATIONAL TIME AND ABSOLUTE ERROR COMPARISON FOR RELIABILITY EXPRESSION DERIVED BY VARIOUS METHODS

被引：5

作者：

AGGARWAL, KK

GUPTA, JS

MISRA, KB

机构：

[1] UNIV ROORKEE,ROORKEE,INDIA

[2] REG ENGN COLL,KURUKSHETRA,INDIA

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1975年 / 14卷 / 5-6期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(75)90160-2

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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