督脉穴位电针对暂时性脑缺血所致神经细胞死亡的影响

被引：17

作者：

李荣

郭景春

程介士

机构：

[1] 复旦大学医学院针刺原理研究所

[2] 复旦大学医学院针刺原理研究所医学神经生物学国家重点实验室

[3] 上海

[4] 医学神经生物学国家重点实验室

来源：

针刺研究 | 2003年 / 01期

基金：

国家自然科学基金重点项目;

关键词：

脑缺血; 电针; DNA损伤; 细胞凋亡;

D O I：

10.13702/j.1000-0607.2003.01.002

中图分类号：

R245.97 [];

学科分类号：

100512 ;

摘要：

目的 :观察电针对神经细胞死亡、DNA损伤及凋亡相关基因蛋白 (Bcl 2、Bax、P53 )表达的影响。方法 :采用短暂脑缺血再灌注 (MCAo)模型 ,应用HE、TUNEL、免疫组织化学等实验技术进行观察。结果 :大脑中动脉阻塞 2hr后 ,随着再灌时间的增加梗塞灶面积进行性发展 ,在不同再灌时间点 ,电针均能减小梗塞面积 ,而且电针可明显减少短暂脑缺血再灌注后细胞坏死和DNA损伤 ,并上调Bcl 2 /Bax比值 ,和减少P53的表达。结论 :电针具有神经保护作用 ,其部分作用可能通过调节凋亡相关基因蛋白的表达而实现

引用

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共 6 条

[1] 针刺对暂时性脑缺血脑内一氧化氮合酶及神经细胞死亡的影响 [J].