温度测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211727188.0

申请日：

2022-12-30

公开(公告)号：

CN115962863B

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

张迎华蒲嘉鹏董艳芳王凯东刘晓玲

申请人：

曙光信息产业股份有限公司

申请人地址：

300000 天津市西青区华苑产业区（环外）海泰华科大街15号1-3层

IPC主分类号：

G01K13/00

IPC分类号：

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

唐彩琴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	授权	授权

共 50 条

[1] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

祝凯 ;

杨金伟 ;

郭永冲 ;

祁铭超 ;

王雨涵 ;

李立新 ;

张融 .

中国专利 :CN117591432A ,2024-02-23

[2] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

邓临风 ;

王马俊 ;

钱晨怡 ;

柴兆文 ;

黄建新 .

中国专利 :CN115718682B ,2024-10-18

[3] 芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张学利 ;

张玄 .

中国专利 :CN119902940A ,2025-04-29

[4] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

徐宁 ;

秦晓宁 ;

陈颖 .

中国专利 :CN119728475A ,2025-03-28

[5] 测试方法、装置、存储介质和计算机设备 [P].

李珍 .

中国专利 :CN120276993A ,2025-07-08

[6] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

杨金伟 ;

祝凯 ;

祁铭超 ;

王雨涵 ;

李立新 ;

张融 .

中国专利 :CN117591431A ,2024-02-23

[7] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

孟召潮 ;

秦晓宁 ;

陈颖 ;

王添 .

中国专利 :CN117370085B ,2025-02-28

[8] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

吴超 ;

蒋家堂 .

中国专利 :CN114070768A ,2022-02-18

[9] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

刘振声 .

中国专利 :CN114356750A ,2022-04-15

[10] 测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

孟召潮 ;

秦晓宁 ;

陈颖 ;

王添 .

中国专利 :CN117370085A ,2024-01-09

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