光检测装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480009107.4

申请日：

2024-02-21

公开(公告)号：

CN120660461A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

德满千绘

申请人：

索尼半导体解决方案公司

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

H10F39/12

IPC分类号：

H04N25/70

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

姚鹏;陈桂香

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开

共 50 条

[1] 光检测装置和电子设备 [P].

松本晃 .

日本专利 :CN119908182A ,2025-04-29

[2] 光检测装置和电子设备 [P].

山下浩史 ;

冨田知大 ;

田中晴美 .

日本专利 :CN118866922A ,2024-10-29

[3] 光检测装置和电子设备 [P].

内田哲弥 ;

平野智之 ;

铃木亮司 .

日本专利 :CN118299390A ,2024-07-05

[4] 光检测装置和电子设备 [P].

西冈裕太 .

日本专利 :CN117941070A ,2024-04-26

[5] 光检测装置及电子设备 [P].

正垣敦 .

日本专利 :CN118946969A ,2024-11-12

[6] 半导体装置和电子设备 [P].

木元和泉 ;

西田庆次 ;

土井浩平 ;

田中晴美 .

日本专利 :CN120188588A ,2025-06-20

[7] 光检测元件和电子设备 [P].

森裕之 .

日本专利 :CN119732073A ,2025-03-28

[8] 光检测装置和电子设备 [P].

长谷川贤太 ;

守屋雄介 .

日本专利 :CN119790730A ,2025-04-08

[9] 光检测装置、电子设备和固态摄像装置 [P].

宫波勇树 ;

奥山敦 .

日本专利 :CN118173565A ,2024-06-11

[10] 光检测装置、电子设备和固态摄像装置 [P].

宫波勇树 ;

奥山敦 .

日本专利 :CN118198091A ,2024-06-14

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