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MBIST测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510014395.9
申请日：
2025-01-06
公开(公告)号：
CN120089185A
公开(公告)日：
2025-06-03
发明(设计)人：
刘弋波 赖鼐
申请人：
珠海妙存科技有限公司
申请人地址：
519000 广东省珠海市横琴新区环岛北路2515号2单元2001
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
代理机构：
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人：
麦铭锋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 珠海市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20250106
2025-06-03 公开 公开
共 50 条
[1]   调度器测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
于亚轩 .
中国专利 :CN112380075A ,2021-02-19
[2]   验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王银峰 ;
刘勇鹏 ;
王旭 .
中国专利 :CN118245271A ,2024-06-25
[3]   芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN116564399B ,2024-04-02
[4]   测试处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何宗海 .
中国专利 :CN114168462A ,2022-03-11
[5]   性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张俊超 ;
靳铃花 ;
李玉梅 ;
梁文艳 ;
刘云 ;
梁佳 .
中国专利 :CN117873806A ,2024-04-12
[6]   测试处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
熊严飞 ;
王春跃 ;
高蕊 ;
冷炜 .
中国专利 :CN112929230B ,2021-06-08
[7]   测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗贤军 ;
张金鹏 ;
陈新斌 .
中国专利 :CN119865545A ,2025-04-22
[8]   测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐立宇 ;
陈文极 ;
林震宇 ;
林晨 ;
林智泓 ;
陈艺辉 .
中国专利 :CN111159023A ,2020-05-15
[9]   测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
练素琼 ;
何小龙 ;
王浩 ;
苏珊虹 ;
陈荔丽 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN115658495A ,2023-01-31
[10]   测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘正阳 .
中国专利 :CN110689285A ,2020-01-14
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