共 50 条
离线小机型X射线数字成像检测设备
被引:0
专利类型:
外观设计
申请号:
CN202430595531.4
申请日:
2024-09-19
公开(公告)号:
CN309267898S
公开(公告)日:
2025-05-02
发明(设计)人:
刘芳秋
孙德超
王成
申请人:
丹东华日理学电气有限公司
申请人地址:
118001 辽宁省丹东市振安区东平大街139号
IPC主分类号:
10-05
IPC分类号:
代理机构:
大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244
代理人:
崔雪
法律状态:
授权
国省代码:
辽宁省
丹东市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-05-02 | 授权 | 授权 |