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模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411774266.1
申请日：
2024-12-05
公开(公告)号：
CN119229243B
公开(公告)日：
2025-04-01
发明(设计)人：
甘宇飞 谢晨 杨海波
申请人：
光轮智能（北京）科技有限公司
申请人地址：
100044 北京市海淀区海淀大街甲36号5层5014号-708号
IPC主分类号：
G06V10/776
IPC分类号：
G06V10/74 G06F16/583
代理机构：
北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482
代理人：
姚亮梅
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-01-17 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/776申请日:20241205
2024-12-31 公开 公开
2025-04-01 授权 授权
共 50 条
[1]   模型缺陷检测方法、计算机设备及可读存储介质 [P]. 
甘宇飞 ;
谢晨 ;
杨海波 .
中国专利 :CN119229243A ,2024-12-31
[2]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鹏光 ;
冯嘉佩 ;
徐开元 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06
[3]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王楠 ;
王远 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31
[4]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张建书 ;
何水源 ;
贺继石 ;
刘枢 ;
沈小勇 ;
吕江波 .
中国专利 :CN117726579A ,2024-03-19
[5]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张才明 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119399183A ,2025-02-07
[6]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521B ,2024-11-26
[7]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
易振彧 ;
潘阳山 ;
蔡淳昊 ;
夏舟 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118608521A ,2024-09-06
[8]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鹏光 ;
冯嘉佩 ;
徐开元 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24
[9]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
蒋焘 .
中国专利 :CN111583223A ,2020-08-25
[10]   缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
莫宇 ;
金韵 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119515761A ,2025-02-25
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