共 50 条
近红外光电探测器性能测试方法、装置以及设备
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202411862129.3
申请日:
2024-12-17
公开(公告)号:
CN119714393A
公开(公告)日:
2025-03-28
发明(设计)人:
陆健婷
柳月波
赖灿雄
廖文渊
李树旺
路国光
申请人:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址:
511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号:
G01D18/00
IPC分类号:
G01D5/40
代理机构:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人:
成亚婷
法律状态:
实质审查的生效
国省代码:
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-04-15 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01D 18/00申请日:20241217 |
2025-03-28 | 公开 | 公开 |