共 50 条
显示设备缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
被引:0
专利类型:
发明
申请号:
CN202311041963.1
申请日:
2023-08-16
公开(公告)号:
CN119494807A
公开(公告)日:
2025-02-21
发明(设计)人:
陈全亮
戴思勰
田文军
蒋坤君
申请人:
舜宇光学(浙江)研究院有限公司
申请人地址:
311200 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区建设三路733号信息港五期一号楼205-39
IPC主分类号:
G06T7/00
IPC分类号:
G06T7/11
G06V10/44
G06V10/774
G06V10/764
G06V10/82
G06N3/045
G06N3/0464
G06N3/08
代理机构:
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人:
贺才杰
法律状态:
公开
国省代码:
安徽省
宣城市
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法律状态
法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
2025-02-21 | 公开 | 公开 |
2025-03-11 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20230816 |