一种提高磁粒子成像空间分辨率的方法、装置及设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411143868.7
申请日
2024-08-20
公开(公告)号
CN119130806A
公开(公告)日
2024-12-13
发明(设计)人
杜洋 田捷 苏磊 梁倩
申请人
中国科学院自动化研究所
申请人地址
100080 北京市海淀区中关村东路95号
IPC主分类号
G06T3/4053
IPC分类号
G06T5/70 G06T5/60 G06T5/50 G06T7/90
代理机构
北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250
代理人
刘静
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]   一种提高AOTF成像空间分辨率和光谱分辨率的方法 [P]. 
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李晋华 ;
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[2]   一种提高光谱成像空间分辨率的成像装置 [P]. 
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[3]   基于弛豫矫正的磁粒子成像分辨率提升系统、方法及设备 [P]. 
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惠辉 ;
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中国专利 :CN117530675B ,2024-04-02
[4]   基于弛豫矫正的磁粒子成像分辨率提升系统、方法及设备 [P]. 
田捷 ;
朱涛 ;
惠辉 ;
王玥琦 ;
卫泽琛 ;
杨鑫 .
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[5]   基于频域信息过滤的磁粒子成像分辨率提升方法及系统 [P]. 
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[6]   一种提高光谱成像空间分辨率的方法和系统 [P]. 
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[8]   基于磁场自由线平行激励的多分辨率磁粒子成像方法及系统 [P]. 
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安羽 .
中国专利 :CN119969993A ,2025-05-13
[9]   基于磁场自由线平行激励的多分辨率磁粒子成像方法及系统 [P]. 
田捷 ;
卞忠伟 ;
陈梓威 ;
安羽 .
中国专利 :CN119969993B ,2025-07-04
[10]   基于快速特征融合的磁粒子高分辨率重建方法 [P]. 
刘建刚 ;
郭李爽 ;
田捷 ;
安羽 .
中国专利 :CN120235980A ,2025-07-01