一种晶体管测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323587221.7

申请日：

2023-12-27

公开(公告)号：

CN222167158U

公开(公告)日：

2024-12-13

发明(设计)人：

邓伟

申请人：

深圳智芯源半导体有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南九道10号深圳湾科技生态园10栋B2905

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

深圳市世纪宏博知识产权代理事务所(普通合伙) 44806

代理人：

董博

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-13	授权	授权

共 50 条

[1] 晶体管测试仪 [P].

张文华 .

中国专利 :CN303561761S ,2016-01-20

[2] 晶体管测试仪 [P].

杜树鑫 .

中国专利 :CN2757145Y ,2006-02-08

[3] 晶体管测试仪 [P].

周敏 ;

方小峰 .

中国专利 :CN304880381S ,2018-11-06

[4] 多功能晶体管测试仪 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN307797079S ,2023-01-17

[5] 多功能晶体管测试仪 [P].

汪建 .

中国专利 :CN205787001U ,2016-12-07

[6] 晶体管特性测试仪 [P].

汪建 ;

杨橙 ;

王倩 ;

向烊 .

中国专利 :CN205787000U ,2016-12-07

[7] 晶体管在线测试仪 [P].

赵雷 .

中国专利 :CN85202412U ,1987-02-25

[8] 多功能阻容晶体管测试仪 [P].

廖文丹 .

中国专利 :CN307678592S ,2022-11-22

[9] 晶体管综合参数测试仪 [P].

崔本柱 .

中国专利 :CN2303306Y ,1999-01-06

[10] 简易电力晶体管测试仪 [P].

王阿杨 ;

李明 ;

余进 .

中国专利 :CN201145726Y ,2008-11-05

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