设备测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410949656.1
申请日
2024-07-15
公开(公告)号
CN118981421A
公开(公告)日
2024-11-19
发明(设计)人
吴琨
申请人
深圳市TCL云创科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号TCL国际E城三期F4栋TCL通讯科技大厦7楼
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570
代理人
高钊
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]   测试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗丹 ;
段于胜 ;
谢朝杰 .
中国专利 :CN111737133A ,2020-10-02
[2]   测试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗丹 ;
段于胜 ;
谢朝杰 .
中国专利 :CN111737133B ,2024-10-11
[3]   设备测试方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质 [P]. 
吴婕 .
中国专利 :CN113891064A ,2022-01-04
[4]   应用测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘嘉琦 ;
周岩磊 ;
何浩恩 .
中国专利 :CN119292917A ,2025-01-10
[5]   测试方法、计算机设备、计算机可读存储介质 [P]. 
谢黎明 .
中国专利 :CN114765588A ,2022-07-19
[6]   测试方法、计算机设备、计算机可读存储介质 [P]. 
谢黎明 .
中国专利 :CN114765588B ,2024-12-03
[7]   测试方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 [P]. 
潘朝裕 ;
路军涛 ;
梁少棠 ;
石磊 ;
江武特 ;
李刚 .
中国专利 :CN118896698A ,2024-11-05
[8]   测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吕小立 ;
刘丽珍 ;
刘芳 .
中国专利 :CN111274128A ,2020-06-12
[9]   测试案例分层测试方法、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
舒清 .
中国专利 :CN111538672A ,2020-08-14
[10]   测试设备、测试方法、计算机设备和计算机可读存储介质 [P]. 
吴承明 ;
朱阿男 ;
毛孝飞 ;
丁明华 .
中国专利 :CN108490338A ,2018-09-04