缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310120659.X

申请日：

2023-02-03

公开(公告)号：

CN118485613A

公开(公告)日：

2024-08-13

发明(设计)人：

詹望

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/44 G06V10/75

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20230203
2024-08-13	公开	公开

共 50 条

[1] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读介质 [P].

乔海瑞 .

中国专利 :CN117611879B ,2025-05-13

[2] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读介质 [P].

乔海瑞 .

中国专利 :CN117611879A ,2024-02-27

[3] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄建峰 ;

林义闽 ;

易万鑫 ;

廉士国 .

中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07

[4] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[5] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03

[6] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴凯 ;

刘阿灶 ;

李宗缘 ;

王鑫光 ;

姚飙 ;

刘斌 ;

严云飞 .

中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12

[7] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25

[8] 缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P].

吴雨培 ;

谢阳 .

中国专利 :CN117314895B ,2024-03-12

[9] 缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

何兆铭 ;

毕海 ;

段江伟 ;

汪伟 ;

杨万里 .

中国专利 :CN114235759B ,2022-03-25

[10] 缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P].

金侠挺 ;

郑佳 ;

潘华东 .

中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23

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