用于调试应用程序的方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311754983.3
申请日
2023-12-19
公开(公告)号
CN117687925A
公开(公告)日
2024-03-12
发明(设计)人
张雨义
申请人
紫光同芯微电子有限公司
申请人地址
100000 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-1楼一层106A
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京康盛知识产权代理有限公司 11331
代理人
张宇峰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]   用于调试应用程序的方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
路倩 ;
刘静亚 ;
张章 ;
邹重人 .
中国专利 :CN117648258A ,2024-03-05
[2]   应用程序调试方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘永生 .
中国专利 :CN111078530A ,2020-04-28
[3]   程序调试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
崔显龙 .
中国专利 :CN110879781A ,2020-03-13
[4]   应用程序显示方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
方雨威 .
中国专利 :CN119892972A ,2025-04-25
[5]   应用程序推荐方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王卓然 ;
亓超 ;
马宇驰 ;
陈华荣 .
中国专利 :CN110188278A ,2019-08-30
[6]   应用程序处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质 [P]. 
陈岩 .
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[7]   应用程序的测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
邵珊珊 ;
张钊 ;
唐弢 .
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[8]   应用程序的调试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
肖兆琦 ;
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[9]   应用程序分析方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
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[10]   应用程序分析方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
樊宇 .
中国专利 :CN110347573A ,2019-10-18