自动化试卷分析方法、系统、电子设备、存储介质

被引：0

申请号：

CN202210470540.0

申请日：

2022-04-28

公开(公告)号：

CN115050039A

公开(公告)日：

2022-09-13

发明(设计)人：

朱新宁杜龙飞涂亮张春红赵慧

申请人：

申请人地址：

100876 北京市海淀区西土城路10号

IPC主分类号：

G06V30412

IPC分类号：

G06V3026 G06F1631 G06Q1006 G06Q5020

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

张文玄

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	公开	公开

共 50 条

[1] 试卷分析方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

杜竹君 ;

马志国 ;

张飞飞 ;

麻凯利 ;

郝双 ;

阚海鹏 ;

杨明坤 ;

张明 ;

王少康 ;

王彦君 .

中国专利 :CN113177435B ,2024-08-27

[2] 试卷分析方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

杜竹君 ;

马志国 ;

张飞飞 ;

麻凯利 ;

郝双 ;

阚海鹏 ;

杨明坤 ;

张明 ;

王少康 ;

王彦君 .

中国专利 :CN113177435A ,2021-07-27

[3] 自动化测试方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

汪立夫 ;

李成霞 ;

李赛飞 .

中国专利 :CN120686047A ,2025-09-23

[4] 自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

李治民 ;

赵德银 ;

张东波 ;

李俊儒 ;

刘丽双 .

中国专利 :CN114778129A ,2022-07-22

[5] 自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203A ,2024-01-09

[6] 自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

李治民 ;

赵德银 ;

张东波 ;

李俊儒 ;

刘丽双 .

中国专利 :CN114778129B ,2025-06-27

[7] 自动化测试方法、系统、存储介质与电子设备 [P].

金城 ;

刘坤鹰 .

中国专利 :CN114371995A ,2022-04-19

[8] 自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203B ,2024-07-02

[9] 自动化测试的分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王浩 ;

李超 .

中国专利 :CN119336603A ,2025-01-21

[10] 自动化医学统计分析方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

秦晓宏 ;

叶大江 .

中国专利 :CN115083551A ,2022-09-20

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