一种芯片调试装置、方法及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710743553.X

申请日：

2017-08-25

公开(公告)号：

CN109426594A

公开(公告)日：

2019-03-05

发明(设计)人：

袁赛峰

申请人：

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

张颖玲;李梅香

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-05	公开	公开
2021-09-21	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G06F 11/22 申请公布日:20190305
2019-03-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20170825

共 50 条

[1] 调试方法和调试装置及计算机可读存储介质 [P].

关富文 ;

唐政清 ;

董玉红 .

中国专利 :CN108180599B ,2018-06-19

[2] 一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质 [P].

任明刚 ;

吴睿振 ;

余洪斌 ;

崔健 .

中国专利 :CN112732586A ,2021-04-30

[3] 一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质 [P].

任明刚 ;

吴睿振 ;

余洪斌 ;

崔健 .

中国专利 :CN112732586B ,2024-06-07

[4] 光学模组调试装置、方法及计算机可读存储介质 [P].

黄琴华 .

中国专利 :CN114255224A ,2022-03-29

[5] 光学模组调试装置、方法及计算机可读存储介质 [P].

黄琴华 .

中国专利 :CN114255224B ,2024-10-29

[6] 调试方法、调试装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈若璇 ;

赖全鹏 ;

徐逸之 ;

吕铮 ;

郑锦山 .

中国专利 :CN120086114A ,2025-06-03

[7] 虚拟实体调试方法、实体调试装置及计算机可读存储介质 [P].

韩伟华 ;

谭文锋 ;

曾良峰 ;

李晓五 ;

刘永吉 ;

席晓锋 ;

胡善义 ;

叶晏辰 .

中国专利 :CN110083074A ,2019-08-02

[8] 一种调试方法及装置、以及计算机可读存储介质 [P].

周伟 ;

方沛昱 .

中国专利 :CN107612848A ,2018-01-19

[9] 芯片调试方法、用户终端、系统及计算机可读存储介质 [P].

王翔 ;

徐小龙 ;

张敏 .

中国专利 :CN118193360A ,2024-06-14

[10] 芯片调试方法、服务终端、系统及计算机可读存储介质 [P].

王翔 ;

徐小龙 ;

张敏 .

中国专利 :CN118519689A ,2024-08-20

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