一种非制冷红外焦平面的自适应非均匀校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010794345.4

申请日：

2020-08-10

公开(公告)号：

CN111932478A

公开(公告)日：

2020-11-13

发明(设计)人：

贺明

申请人：

申请人地址：

100094 北京市海淀区北清路81号一区4号楼9层901室

IPC主分类号：

G06T500

IPC分类号：

G06T540 G06F1718

代理机构：

北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870

代理人：

李林合

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	公开	公开
2021-02-26	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06T 5/00 变更事项:申请人变更前:国科天成（北京）科技有限公司变更后:国科天成科技股份有限公司变更事项:地址变更前:100094 北京市海淀区北清路81号一区4号楼9层901室变更后:100094 北京市海淀区北清路81号一区4号楼9层901室
2020-12-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 5/00 申请日:20200810
2022-05-06	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06T 5/00 申请公布日:20201113

共 50 条

[1] 非制冷红外焦平面读出电路及校正方法 [P].

刘海涛 ;

吴高军 ;

范延军 ;

姜骥 ;

钱良山 ;

姜利军 .

中国专利 :CN120576885A ,2025-09-02

[2] 一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法 [P].

周津同 .

中国专利 :CN108225571A ,2018-06-29

[3] 一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法 [P].

周津同 .

中国专利 :CN108225570A ,2018-06-29

[4] 基于Wiener滤波理论的非制冷红外焦平面非均匀校正算法 [P].

蒋亚东 ;

甄德根 ;

吴志明 .

中国专利 :CN100458380C ,2007-01-24

[5] 一种红外焦平面非均匀性校正方法 [P].

陈忻 ;

赵云峰 ;

饶鹏 ;

夏晖 ;

韩冰 .

中国专利 :CN108519161A ,2018-09-11

[6] 一种非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正方法 [P].

宋鸿飞 ;

张科航 ;

曹文晓 ;

谭文 ;

郭飞 ;

张馨壬 ;

周见红 ;

孟颖 ;

闫钰锋 ;

李鹏飞 ;

刘紫璐 ;

张云朋 .

中国专利 :CN116055908B ,2024-10-29

[7] 基于总变分的自适应红外焦平面非均匀性校正方法 [P].

陈钱 ;

任建乐 ;

顾国华 ;

钱惟贤 ;

路东明 ;

隋修宝 ;

何伟基 ;

任侃 ;

张闻文 ;

于雪莲 ;

李宏哲 ;

毛晨 .

中国专利 :CN102778296A ,2012-11-14

[8] 一种非制冷红外焦平面的读出电路 [P].

黄晟 ;

李凯 .

中国专利 :CN207083064U ,2018-03-09

[9] 凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法 [P].

刘传明 ;

吴诚 ;

苏俊波 ;

苏兰 ;

陈吕吉 .

中国专利 :CN1811360A ,2006-08-02

[10] 一种非制冷红外焦平面探测器的非均匀性无挡校正方法 [P].

路璐 ;

赵勋 ;

朱裕莎 ;

姜立涛 ;

黄安明 ;

曾衡东 .

中国专利 :CN115406542A ,2022-11-29

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