一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110101593.0

申请日：

2021-01-26

公开(公告)号：

CN112804708B

公开(公告)日：

2021-05-14

发明(设计)人：

茆晓军

申请人：

申请人地址：

201210 上海市浦东新区自由贸易试验区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

IPC主分类号：

H04W2408

IPC分类号：

代理机构：

北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444

代理人：

焦志刚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04W 24/08 申请日:20210126
2021-05-14	公开	公开
2022-12-02	授权	授权

共 50 条

[1] 测试向量生成方法、装置和计算设备 [P].

刘岩 ;

董雨晴 ;

范凯毓 ;

叶相相 ;

许泽洲 ;

王旭 ;

程之龙 ;

虢政 .

中国专利 :CN119916176A ,2025-05-02

[2] 一种测试向量的生成方法和装置 [P].

邓琛 ;

洪钦智 ;

沈钲 .

中国专利 :CN118914816A ,2024-11-08

[3] 一种测试向量生成方法 [P].

刘鹏 ;

张晓峰 ;

赵月明 ;

季晓燕 ;

孙宇凯 ;

岳红维 ;

王君从 ;

田爱国 ;

戴强 ;

崔海龙 ;

沈贵元 ;

胡美玲 .

中国专利 :CN113466675B ,2021-10-01

[4] 词向量的增量生成方法、装置和电子设备 [P].

曾晋科 ;

刘金艳 ;

王椗 .

中国专利 :CN113962220A ,2022-01-21

[5] 向量生成方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

苏义伟 ;

杨玉树 ;

郭祥 .

中国专利 :CN117973318A ,2024-05-03

[6] 词向量生成方法、装置及电子设备 [P].

庞超 ;

王硕寰 ;

孙宇 ;

李芝 .

中国专利 :CN111241819A ,2020-06-05

[7] 一种测试向量生成方法及装置 [P].

赵鑫鑫 ;

姜凯 ;

李朋 ;

尹超 .

中国专利 :CN108319534B ,2018-07-24

[8] 一种句向量生成方法、装置及电子设备 [P].

贺宇 ;

佟子健 ;

茹立云 .

中国专利 :CN111178082A ,2020-05-19

[9] 芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质 [P].

朱康宁 ;

张文平 ;

曹顺 .

中国专利 :CN113849419B ,2021-12-28

[10] 芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质 [P].

张童 ;

章伟 .

中国专利 :CN118425742B ,2024-09-03

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