一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010578155.9

申请日：

2020-06-23

公开(公告)号：

CN111741243A

公开(公告)日：

2020-10-02

发明(设计)人：

余达刘金国周怀得姜肖楠杨亮黄斌李嘉

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

IPC主分类号：

H04N5374

IPC分类号：

H04N1700

代理机构：

长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214

代理人：

朱红玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-02	公开	公开
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/374 申请日:20200623
2021-06-29	授权	授权

共 50 条

[1] 一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法 [P].

余达 ;

吕恒毅 ;

司国良 ;

张宇 ;

孙雪晨 ;

邵帅 .

中国专利 :CN116320385B ,2025-08-19

[2] 一种紫外探测器的非均匀校正方法 [P].

孙小亮 ;

毛义伟 ;

赵凯生 ;

潘晓东 ;

赵菲菲 ;

王晓娟 .

中国专利 :CN105509879A ,2016-04-20

[3] 一种探测器非均匀校正方法和系统 [P].

蔡李靖 ;

黄尔齐 ;

邓智威 ;

字崇德 ;

陈林森 .

中国专利 :CN111998958A ,2020-11-27

[4] 一种CMOS探测器的非均匀性校正方法 [P].

隋修宝 ;

陶远荣 ;

陈钱 ;

顾国华 ;

高航 ;

吴健 ;

匡小冬 ;

潘科辰 ;

沈雪薇 ;

刘源 ;

赵耀 .

中国专利 :CN106791506B ,2017-05-31

[5] 一种短波红外探测器非均匀校正方法及装置 [P].

赵凯生 ;

汪江华 ;

潘晓东 .

中国专利 :CN103065280A ,2013-04-24

[6] 一种TDICMOS探测器的筛选测试方法 [P].

余达 ;

刘金国 ;

孔德柱 ;

陈佳豫 ;

马庆军 ;

王玉龙 ;

王冶 .

中国专利 :CN109660790A ,2019-04-19

[7] TDICMOS探测器的暗信号扣除方法 [P].

余达 ;

吕恒毅 ;

刘海龙 ;

孙雪晨 ;

刘春香 ;

邵帅 ;

赵莹 .

中国专利 :CN114143482A ,2022-03-04

[8] 一种非制冷红外探测器的两点校正方法 [P].

刘玉姣 ;

李树林 ;

吕星煜 ;

彭明轩 .

中国专利 :CN107741279A ,2018-02-27

[9] 基于探测器温度的多点非均匀校正的方法 [P].

公志强 ;

彭玲 ;

汪利庆 ;

刘仁军 ;

何涛 ;

覃杰 ;

陈煜卓 ;

周国栋 ;

张文芳 ;

岳云芳 .

中国专利 :CN110595630A ,2019-12-20

[10] 一种CT装置探测器响应的均匀性校正方法 [P].

王群 ;

相会财 ;

晏雄伟 .

中国专利 :CN118967858A ,2024-11-15

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