校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置

被引：0

申请号：

CN202211078874.X

申请日：

2022-09-05

公开(公告)号：

CN115511972A

公开(公告)日：

2022-12-23

发明(设计)人：

刘敏龚冰冰刘庆龙师少光

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区国家工程实验室大楼B栋8楼

IPC主分类号：

G06T780

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

姚泽鑫

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/80 申请日:20220905
2022-12-23	公开	公开

共 50 条

[1] 红外热像仪非均匀性校正方法及校正系统 [P].

伍雁雄 .

中国专利 :CN116295867B ,2025-08-01

[2] 红外图像非均匀性校正方法及装置 [P].

姜志富 .

中国专利 :CN105716720B ,2016-06-29

[3] 一种非均匀性校正方法及装置 [P].

樊晓清 .

中国专利 :CN110873606B ,2020-03-10

[4] LED显示屏非均匀性在线校正系统和校正方法 [P].

邵晓鹏 ;

黄远辉 ;

许宏涛 ;

杨虹 ;

吕斐 ;

王阳 ;

张临临 ;

刘飞 ;

乔琳 ;

钟宬 ;

杨晓晖 .

中国专利 :CN102723054A ,2012-10-10

[5] 红外光电系统的非均匀性校正系数获取方法及校正方法 [P].

张新 ;

刘洋 ;

付强 ;

史广维 ;

赵尚男 .

中国专利 :CN111366253A ,2020-07-03

[6] 用于红外图像非均匀性校正的模型训练方法及校正方法 [P].

秦翰林 ;

廖昕源 ;

延翔 ;

袁帅 ;

田超世 ;

吴朝辉 .

中国专利 :CN117115013B ,2025-08-19

[7] 低成本且非矩形触摸传感器矩阵的均匀性校正方法 [P].

安德理·亚欧旭 ;

延斯·韦伯 .

中国专利 :CN109716272A ,2019-05-03

[8] 低成本且非矩形触摸传感器矩阵的均匀性校正方法 [P].

安德理·亚欧旭 ;

延斯·韦伯 .

美国专利 :CN109716272B ,2024-11-19

[9] 短波红外焦平面非均匀性的校正方法及装置 [P].

周津同 .

中国专利 :CN106910174A ,2017-06-30

[10] 图像校正系数的获取方法、非均匀图像校正方法及系统 [P].

姜正中 .

中国专利 :CN102176742B ,2011-09-07

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