基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610020854.5

申请日：

2016-01-13

公开(公告)号：

CN105572076A

公开(公告)日：

2016-05-11

发明(设计)人：

杨涛黄维朱永元李兴鳌何浩培

申请人：

申请人地址：

210023 江苏省南京市栖霞区文苑路9号

IPC主分类号：

G01N2149

IPC分类号：

代理机构：

南京知识律师事务所 32207

代理人：

李媛媛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-11	公开	公开
2018-11-30	授权	授权
2016-06-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101663898558 IPC(主分类):G01N 21/49 专利申请号:2016100208545 申请日:20160113

共 50 条

[1] 基于衍射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

何浩培 ;

朱永元 .

中国专利 :CN105675131A ,2016-06-15

[2] 基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

朱永元 ;

何浩培 ;

周馨慧 ;

仪明东 .

中国专利 :CN105651385A ,2016-06-08

[3] 一种基于滤波效应的太赫兹波谱测量装置及测量方法 [P].

黄维 ;

杨涛 ;

蒋冰 ;

周馨慧 ;

李兴鳌 ;

仪明东 ;

沈骁 ;

何浩培 .

中国专利 :CN106768338A ,2017-05-31

[4] 一种基于滤波效应的太赫兹波谱测量装置 [P].

蒋冰 ;

杨涛 ;

黄维 ;

周馨慧 ;

李兴鳌 ;

仪明东 ;

沈骁 ;

何浩培 .

中国专利 :CN206311210U ,2017-07-07

[5] 太赫兹光谱测量装置、测量方法及其用途 [P].

林琦 ;

林中晞 ;

朱振国 ;

钟杏丽 ;

苏辉 .

中国专利 :CN112229814B ,2021-01-15

[6] 太赫兹探测器参数测量装置及测量方法 [P].

李宏光 ;

杨鸿儒 ;

薛战理 ;

袁良 ;

康登魁 ;

于东钰 ;

卢飞 ;

韩占锁 ;

常伟军 ;

腾国奇 .

中国专利 :CN104729691A ,2015-06-24

[7] 散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843B ,2024-11-15

[8] 散射测量方法及散射测量装置 [P].

邹峥 ;

贺军 ;

吴乐忠 .

中国专利 :CN118464843A ,2024-08-09

[9] 太赫兹波测量装置、测量方法以及测量仪器 [P].

内田裕久 .

中国专利 :CN105699315B ,2016-06-22

[10] 用于测量检查对象的太赫兹测量设备以及太赫兹测量方法 [P].

M.蒂尔 .

中国专利 :CN109716059B ,2019-05-03

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