一种地表粗糙度测量系统及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210223607.7
申请日
2012-06-29
公开(公告)号
CN102706295B
公开(公告)日
2012-10-03
发明(设计)人
王国军 邵芸 宫华泽 张风丽 刘龙
申请人
申请人地址
100012 北京市朝阳区安定门外大屯路甲20号北
IPC主分类号
G01B1130
IPC分类号
代理机构
北京方韬法业专利代理事务所 11303
代理人
马丽莲
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]   地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法 [P]. 
杨习荣 .
中国专利 :CN102135423A ,2011-07-27
[2]   一种测量装置、测量方法及地表粗糙度测量方法 [P]. 
刘俊峰 ;
陈仁升 ;
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[3]   一种地表粗糙度的测量装置 [P]. 
沈禹颖 ;
牛伊宁 ;
南志标 .
中国专利 :CN101603822B ,2009-12-16
[4]   地表粗糙度测量装置 [P]. 
牛伊宁 ;
黄高宝 ;
柴强 .
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[5]   地表粗糙度测量装置 [P]. 
牛伊宁 ;
黄高宝 ;
柴强 .
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[6]   一种地表粗糙度测量仪 [P]. 
张成才 ;
杨峰 ;
刘吉胜 ;
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[7]   一种地表粗糙度自动化测量装置及方法 [P]. 
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[8]   一种粗糙度测量装置及测量方法 [P]. 
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[9]   地表粗糙度参数测量装置及方法 [P]. 
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[10]   一种地表几何粗糙度测量装置 [P]. 
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柳钦火 ;
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